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主營(yíng)產(chǎn)品:水質(zhì)分析儀器、水文儀器、流體測(cè)控、在線分析與過程控制、實(shí)驗(yàn)室整體方案

HI770微電腦二氧化硅(HR)濃度測(cè)定儀

型 號(hào)

產(chǎn)品時(shí)間2022-01-06

所屬分類比色法離子濃度計(jì)

報(bào)價(jià)

產(chǎn)品描述:HI770微電腦二氧化硅(HR)濃度測(cè)定儀是用于現(xiàn)場(chǎng)二氧化硅的快速分析儀器,具有校零和測(cè)量過程一鍵完成功能。*CHECKTM性能核查功能,使用NIST二氧化硅標(biāo)準(zhǔn)核查組定期對(duì)儀器進(jìn)行檢查。適用于實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場(chǎng)快速樣品分析測(cè)量。
產(chǎn)品概述

HI770微電腦二氧化硅(HR)濃度測(cè)定儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

HI770微電腦二氧化硅(HR)濃度測(cè)定儀是用于現(xiàn)場(chǎng)二氧化硅的快速分析儀器,具有校零和測(cè)量過程一鍵完成功能。*CHECKTM性能核查功能,使用NIST二氧化硅標(biāo)準(zhǔn)核查組定期對(duì)儀器進(jìn)行檢查。適用于實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場(chǎng)快速樣品分析測(cè)量。

HI770微電腦二氧化硅(HR)濃度測(cè)定儀主要特點(diǎn):

1、優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì),人性化確認(rèn)操作,保證儀器的良好校準(zhǔn)
2、易讀LCD顯示屏,人性化顯示界面,操作簡(jiǎn)單、快捷
3、倒計(jì)時(shí)功能,試劑與樣品反應(yīng)時(shí)間*性,確保測(cè)量度
4、操作簡(jiǎn)單,出廠前內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)曲線標(biāo)定,確保儀器性能*
5、高精度測(cè)量結(jié)果,光源防塵測(cè)量系統(tǒng),自動(dòng)關(guān)機(jī)節(jié)電模式
6、優(yōu)良防水性能,適用于實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場(chǎng)快速樣品分析測(cè)量

HI770微電腦二氧化硅(HR)濃度測(cè)定儀技術(shù)參數(shù):

測(cè)量范圍

0 to 200 mg/ LppmSiO2

解析度

1 mg/Lppm

測(cè)量精度

讀數(shù)±5% ± 2 mg/L @ 25°C

測(cè)量方法

參照USEPA METHOD 370.1(適用于飲用水,海水,市政和工業(yè)廢水)和Standard Method 4500-SiO2 C標(biāo)準(zhǔn)方法

光學(xué)系統(tǒng)

定制接收器暨光源系統(tǒng)

電源模式

1×1.5V 電池,在測(cè)量模式下,10分鐘不用后自動(dòng)關(guān)機(jī)

使用環(huán)境

0 to 50°C32 to 122°F),RH max 95%,無冷凝

尺寸重量

主機(jī)尺寸:81.5×61×37.5 mm;主機(jī)重量:64g

標(biāo)準(zhǔn)配置

HI770

主機(jī),HI770-25 二氧化硅試劑,HI731313H 定制玻璃比色皿(2個(gè)),HI731318 玻璃比色皿清潔布(2塊),中英文使用說明書,HI721025 定制攜帶盒

HI770C

主機(jī),HI770-25 二氧化硅試劑,HI770-11NIST二氧化硅標(biāo)準(zhǔn)核查組,HI731313H 定制玻璃比色皿(2個(gè)),HI731318 玻璃比色皿清潔布(2塊),中英文使用說明書,HI721025 定制攜帶盒

選購(gòu)配件

HI770-25

定制二氧化硅(HR)試劑

HI770-11

NIST二氧化硅(HR)標(biāo)準(zhǔn)核查組

HI731313H

定制玻璃比色皿杯蓋套裝

HI93703-58

定制玻璃比色皿修復(fù)潤(rùn)滑液

HI93703-50

定制玻璃比色皿清洗液

HI731318

定制玻璃比色皿清潔布

HI740142

定制(1mL)取樣器

HI740157

定制微量(3.5mL)塑料吸管

HI740028

5#)電池

注:1、二氧化硅在溶解礦物質(zhì)的天然水體中存在。但在工業(yè)應(yīng)用中卻不希望有二氧化硅的存在,因?yàn)槎趸钑?huì)引起結(jié)垢現(xiàn)象。特別是高壓管道中更易受二氧化硅的影響。加熱系統(tǒng)和反滲透工廠也有必要監(jiān)測(cè)二氧化硅。

2、儀器在使用一段時(shí)間后,儀器光學(xué)系統(tǒng)將會(huì)衰減,造成內(nèi)部設(shè)置的標(biāo)準(zhǔn)曲線會(huì)出現(xiàn)漂移,影響測(cè)量數(shù)據(jù)可靠性和準(zhǔn)確性。*CHECKTM性能核查功能,使用NIST二氧化硅標(biāo)準(zhǔn)核查組定期(頻繁使用,1-3個(gè)月標(biāo)準(zhǔn)核查一次,常規(guī)情況下,半年標(biāo)準(zhǔn)核查一次)對(duì)儀器進(jìn)行檢查,測(cè)量值在NIST標(biāo)準(zhǔn)值范圍內(nèi),儀器光學(xué)系統(tǒng)為*,如果偏離標(biāo)準(zhǔn)值范圍較大,應(yīng)該及時(shí)送檢。

3、NIST二氧化硅標(biāo)準(zhǔn)核查組,保存和使用應(yīng)在18 to 25°C64.5 to 77°F)溫度范圍內(nèi),非Hanna 品牌二氧化硅標(biāo)準(zhǔn)核查組,并不能確保其標(biāo)準(zhǔn)值真實(shí)性。

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